Pekka
Laukkanen
dosentti, fysiikan ja tähtitieteen laitos
yliopistotutkija, materiaalitutkimuksen laboratorio
Ota yhteyttä
Asiantuntijuusalueet
pintatiede
puolijohde
pinnan passivointi
ohutkalvot
Julkaisut
Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)
Applied Surface Science
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Ytterbium/Silicon and Ytterbium/Germanium Interfaces: Earliest Stages of Formation (2020)
(Kirjan tai muun kokoomateoksen osa (B2))Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)
ACS Applied Materials and Interfaces
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)
Advanced Materials Interfaces
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Unusual oxidation-induced core-level shifts at the HfO2/InP interface (2019)
Scientific Reports
(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä )
Preparation and Characterization of Oxide/Semiconductor Interfaces (2019)
(Vertaisarvioitu artikkeli kokoomateoksessa (A3))INDICATING THE INTENSITY OF A PREDETERMINED TYPE OF RADIATION (2019)
(O2 Muu julkaisu )Surface doping of GaxIn1−xAs semiconductor crystals with magnesium (2018)
Materialia
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))
Wet etching of dilute nitride GaInNAs, GaInNAsSb, and GaNAsSb alloys lattice-matched to GaAs (2018)
Corrosion Science
(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))