Zahra Jahanshah Rad

Controlling the fixed negative charge formation in Si/high-k interfaces (2022)

Physical Review Materials

Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Kuzmin Mikhail, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)

Applied Surface Science

Punkkinen Marko PJ, Lahti Antti, Huhtala Jesse, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Kuzmin Mikhail, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Black silicon boron emitter solar cells with EQE above 95% in UV (2021)

IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Conference Record IEEE Photovoltaic Specialists Conference

Chen Kexun, Vähänissi Ville, Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Laukkanen Pekka, Yli-Koski Marko, Savin Hele

(Vertaisarvioitu artikkeli konferenssijulkaisussa (A4))

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Physical Review B

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina SV, Punkkinen Marko PJ, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

ACS Materials Au

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina Svetlana V., Punkkinen Marko P. J., Hedman Hannu-Pekka, Punkkinen Risto, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Advanced Electronic Materials

Lehtiö Juha-Pekka, Rad Zahra Jahanshah, Granroth Sari, Yasir Muhammad, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Rueff Jean-Pascal, Rauha Ismo TS, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Applied Surface Science

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Rad Z.J., Mäkelä J., Lahti A., Punkkinen M.P.J., Laukkanen P., Kokko K.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

ACS Applied Materials and Interfaces

Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Mack Iris, Rosta Kawa, Chen Kexun, Vähänissi Ville, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Pavlov Andrei, Kuzmin Mikhail, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)

Advanced Materials Interfaces

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Mäkelä J., Yasir M., Rad Z.J., Vuorinen E., Lahti A., Punkkinen M., Laukkanen P., Kokko K., Hedman H.-P., Punkkinen R., Lastusaari M., Repo P., Savin H.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Imaging empty states on the Ge(100) surface at 12 K (2018)

Physical Review B

M. Kuzmin, J. Mäkelä, J.-P. Lehtiö, M. Yasir, M. Tuominen, Z.S. Jahanshah Rad, A. Lahti, M.P.J. Punkkinen, P. Laukkanen, K. Kokko

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Ota yhteyttä

Linkit

Julkaisut

Järjestä:

Controlling the fixed negative charge formation in Si/high-k interfaces (2022)

Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)

Black silicon boron emitter solar cells with EQE above 95% in UV (2021)

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

Observation of Crystalline Oxidized Silicon Phase (2019)

Imaging empty states on the Ge(100) surface at 12 K (2018)