Marko Punkkinen

Effects of post oxidation of SiO2/Si interfaces in ultrahigh vacuum below 450 °C (2022)

Vacuum

Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Chen Kexun, Mack Iris, Vähänissi Ville, Miettinen Mikko, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Suomalainen Petri, Hedman Hannu-Pekka, Kuzmin Mikhail, Kozlova Jekaterina, Rähn Mihkel, Tamm Aile, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Passivation of III-V surfaces with crystalline oxidation (2021)

Applied Physics Reviews

Laukkanen Pekka, Punkkinen Marko, Kuzmin Mikhail, Kokko Kalevi, Lång Jouko, Wallace Robert

(Vertaisarvioitu katsausartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A2))

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

ACS Materials Au

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina Svetlana V., Punkkinen Marko P. J., Hedman Hannu-Pekka, Punkkinen Risto, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Oxygen adsorption on (100) surfaces in Fe-Cr alloys (2021)

Scientific Reports

Ropo Matti, Punkkinen Marko, Kuopanportti Pekko, Yasir Muhammad, Granroth Sari, Kuronen Antti, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Advanced Electronic Materials

Lehtiö Juha-Pekka, Rad Zahra Jahanshah, Granroth Sari, Yasir Muhammad, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Rueff Jean-Pascal, Rauha Ismo TS, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)

Applied Surface Science

Punkkinen Marko PJ, Lahti Antti, Huhtala Jesse, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Kuzmin Mikhail, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Physical Review B

Kuzmin Mikhail, Lehtiö Juha-Pekka, Jahanshah Rad Zahra, Sorokina SV, Punkkinen Marko PJ, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Applied Surface Science

Kuzmin M., Lehtiö J.-P., Rad Z.J., Mäkelä J., Lahti A., Punkkinen M.P.J., Laukkanen P., Kokko K.

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

ACS Applied Materials and Interfaces

Jahanshah Rad Zahra, Lehtiö Juha-Pekka, Mack Iris, Rosta Kawa, Chen Kexun, Vähänissi Ville, Punkkinen Marko, Punkkinen Risto, Hedman Hannu-Pekka, Pavlov Andrei, Kuzmin Mikhail, Savin Hele, Laukkanen Pekka, Kokko Kalevi

(Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tai data-artikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä (A1))

Unusual oxidation-induced core-level shifts at the HfO2/InP interface (2019)

Scientific Reports

Mäkelä J, Lahti A, Tuominen M, Yasir M, Kuzmin M, Laukkanen P, Kokko K, Punkkinen MPJ, Dong H, Brennan B, Wallace RM

(A1 Vertaisarvioitu alkuperäisartikkeli tieteellisessä lehdessä )

Contact

Publications

Sort by:

Effects of post oxidation of SiO2/Si interfaces in ultrahigh vacuum below 450 °C (2022)

Passivation of III-V surfaces with crystalline oxidation (2021)

Atomic-Scale Modification of Oxidation Phenomena on the Ge(100) Surface by Si Alloying (2021)

Oxygen adsorption on (100) surfaces in Fe-Cr alloys (2021)

Observation of Si 2p Core‐Level Shift in Si/High‐κ Dielectric Interfaces Containing a Negative Charge (2021)

Stabilization of unstable and metastable InP native oxide thin films by interface effects (2021)

Atomic and electronic structures of Si/Ge(100) interfaces studied by high-resolution photoelectron spectroscopy and scanning tunneling microscopy (2021)

Dimer-vacancy defects on Si(1 0 0): The role of nickel impurity (2020)

Decreasing Interface Defect Densities via Silicon Oxide Passivation at Temperatures Below 450 degrees C (2020)

Unusual oxidation-induced core-level shifts at the HfO2/InP interface (2019)